西安市功率器件应用测试工程实验室-长禾半导体

       西安长禾半导体技术有限公司功率器件测试实验室(简称长禾实验室)位于西安市高新技术经济开发区，是一家专业从事功率半导体器件测试服务的高新技术企业，是国家CNAS 认可实验室，属于国家大功率器件测试服务中心。

长禾实验室拥有尖端的系统设备、专业的技术团队和完善的服务体系。实验室现有的测试仪器设备100余台套，专业测试人员20余名。我们紧跟国际国内标准，以客户需求为导向，不断创新服务项目和检测技术，借助便利的服务网络，为合作伙伴提供优质高效的技术服务。

长禾实验室专注于功率半导体器件的动、静态参数检测、可靠性检测、失效分析、温循试验、热阻测试等领域的技术服务。业务范围主要涉及国内轨道交通、风力发电、科研单位、军工院所、工业控制、兵器船舶、航空航天、新能源汽车等行业。也是第三代半导体（宽禁带半导体）应用解决方案服务商。

长禾实验室秉承创新务实的经营理念，为客户提供优质的服务、完善的解决方案及全方位的技术支持；同时注重与行业企业、高校和科研院所的合作与交流，测试技术与服务水平不断提升。

诚信立世，感恩回馈，欢迎选择长禾实验室做您忠诚的合作伙伴，共谋发展大计！

二极管	1	反向漏电流	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4016.4	只测： 0～100mA
			半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 4016	只测： 0～100mA
	2	反向击穿电压	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4021.2	只测： 0～3.5kV
	3	正向压降	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4011.4	只测： IS：0A～6000A
			半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 4011	只测： IS：0A～6000A
	4	浪涌电流	半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 4066	只测： If：0A～9000A
	5	反向恢复电荷	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3473.1	只测： 1nC～100µC
		反向恢复时间	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3473.1	只测： 10ns～2us
	6	二极管反压变化率	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3476	只测： VR：5V～3300V， IF：1A～1500A
	7	单脉冲雪崩能量	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4064	只测： L：0.01mH～159.9mH， IAS：0.1A～1500A
		稳态热阻	半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3136	只测： Ph：0.1W～80W
	8	总电容电荷	半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 IEC 60747-2:2016 6.1.8	只测： -3kV～3kV,0～1MHz
	9	结电容	半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 IEC 60747-2:2016 6.1.8	只测： -3kV～3kV,0～1MHz

西安市功率器件应用测试工程实验室-长禾半导体
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