spm扫描探针显微镜的侧视系统

　　国内生产的HR-AFM原子力显微镜

　　标准工作模式：轻敲模式(Vibrationmode)，接触模式(Contactmode)，相位成像模式(Phaseimaging)，横向力模式(LFM)，力曲线测试（ForceCurve），纳米操控（Nanomanipulation），纳米刻蚀（Nanolithography），力矩阵模式（ForceMapping），摩擦力测试（FrictionMode）

　　可选工作模式：导电原子力显微镜（C-AFM），磁力显微镜（MFM），静电力显微镜（EFM）,扫描电势显微镜（SKPM）。

　　spm扫描探针显微镜具有软件自动进针功能。通过软件控制Z方向马达实现探针自动进针

　　X,Y,Z三轴分离的扫描器

　　扫描范围100×100×17μm

　　Z轴分辨率0.035nm

　　样品台尺寸：25mm*25mm*18mm

　　操作软件：使用Laview环境语言控制，免费提供操作软件，并提供维护及升级

　　提供GwyddionIMAGEANALYSISSOFTWARE数据分析系统

　　顶视系统光学分辨率≤2微米

　　视场范围从2mm*2mm到300um*300um可调，放大倍率从45倍到400倍机械可调

　　侧视系统，提供可视化下针，可以通过电脑精确观察控制下针过程，防止撞针

　　spm扫描探针显微镜如有需要欢迎访问以下网址与我们取得联系

　　http://www.afmworkshop.cn/Products-37361375.html

　　https://www.chem17.com/st550104/product_37361375.html