标王 热搜: 气动球阀  山东  设计  常州  装修  铆接机  管材  警示灯  气动调节阀  不锈钢刀叉 
 
当前位置: 首页 » 供应 » 商务服务网 » 发布信息

芯片失效分析:decap、FIB汽车芯片分析报告

详细说明更新时间:2021-06-23 11:49 浏览次数:5
点击图片查看原图
单价:面议
起订:
供货总量:
发货期限:自买家付款之日起 3 天内发货
所在地:广东
有效期至:长期有效
询价
产品介绍
 
 
  芯片失效分析(FA测试)
  芯片失效分析测试项目:
  光学检查(VI/OM);
  扫描电镜检查(FIB/SEM);
  微光分析定位(EMMI/InGaAs);
  OBIRCH;
  微探针测试(Micro-probe);
  聚焦离子束微观分析(Dualbeam-FIB);
  弹坑试验(cratering);
  芯片开封(decap);
  芯片去层(delayer);
  晶格缺陷试验(化学法);
  PN结染色/码染色试验;
  推拉力测试(WBP/WBS);
  红墨水试验;PCBA切片分析(X-section);
  GRGT目前具有以下芯片相关测试能力及技术服务能力:
  芯片可靠性验证(RA):
  芯片级预处理(PC)&MSL试验、J-STD-020&JESD22-A113;
  高温存储试验(HTSL),JESD22-A103;
  温度循环试验(TC),JESD22-A104;
  温湿度试验(TH/THB),JESD22-A101;
  高加速应力试验(HTSL/HAST),JESD22-A110;
  高温老化寿命试验(HTOL),JESD22-A108;
  芯片静电测试(ESD):
  人体放电模式测试(HBM),JS001;
  元器件充放电模式测试(CDM),JS002;
  闩锁测试(LU),JESD78;
  TLP;Surge/EOS/EFT;
  芯片材料分析:
  高分辨TEM(形貌、膜厚测量、电子衍射、STEM、HAADF);
  SEM(形貌观察、截面观察、膜厚测量、EBSD);
  Raman(Raman光谱);AFM(微观表面形貌分析、台阶测量);
  广州广电计量检测股份有限公司(GRGT)失效分析实验室AEC-Q技术团队,执行过大量的AEC-Q测试案例,积累了丰富的认证试验经验,可为您提供更专业、更可靠的AEC-Q认证试验服务。
  芯片测试地点:广电计量-广州总部试验室、广电计量-上海浦东试验室。
  芯片测试业务咨询及技术交流:
  GRGT张工186-2090+8348;
  zhanghp grgtest.com
 

芯片失效分析:decap、FIB汽车芯片分析报告
网址:http://www.keqiw.cn/shangwufuwuwang/134269.html
特别提示:本站信息由用户自行发布,真实性未经证实,仅供参考,客齐网不承担任何责任。
[ 供应搜索 ] [ 加入收藏 ] [ 告诉好友 ] [ 打印本文 ] [ 违规举报 ] [ 关闭窗口 ]

0条 [查看全部]  相关评论

 
公司基本资料信息
该企业最新供应更多..
最新供应立即发布>>
最新资讯
 
网站首页 | 关于我们 | 联系方式 | 使用协议 | 版权隐私 | 网站地图 | 排名推广 | 广告服务 | 积分换礼 | RSS订阅 | 苏ICP备0605306号