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多芯片模块车规级认证:AECQ104认证测试

放大字体  缩小字体 发布日期:2021-06-21  浏览次数:12
 AEC-Q104
  AEC-Q104对多芯片模块的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆制程可靠性、电学参数验证、缺陷筛查、包装完整性试验,且需要根据器件所能承受的温度等级选择测试条件。
  需要注意的是,第三方难以独立完成AEC-Q104的验证,需要晶圆供应商、封测厂配合完成,这更加考验对认证试验的整体把控能力。广电计量将根据客户的要求,依据标准对客户的IC进行评估,出具合理的认证方案,从而助力IC的可靠性认证。
  如果成功完成根据本文件各要点需要的测试结果,那么将允许供应商声称他们的零件通过了AEC Q104认证。供应商可以与客户协商,可以在样品尺寸和条件的认证上比文件要求的要放宽些,但是只有完成要求实现的时候才能认为零件通过了AEC Q104认证。
  若模块中的所有器件(被动元器件、分立器件、芯片等)都以单独完成了AECQ认证,那么只需对模块进行AECQ104标准中H组测试项目,合格后即能申明模块整体通过AECQ104认证。
  Tier 1:OEM车用模块/系统厂,车用电子组件的End-User.
  Tier 2:使用/制造车用电子组件的厂商,车用电子组件的Supplier.
  Tier 3:提供支持与服务给予电子行业,车用电子的外包商.
  广州广电计量检测股份有限公司(GRGT)失效分析实验室AEC-Q技术团队,执行过大量的AEC-Q测试案例,积累了丰富的认证试验经验,可为您提供更专业、更可靠的AEC-Q认证试验服务。
  AECQ104认证测试周期:
  3-4个月,提供全面的认证计划、测试、报告等服务。
  AECQ100认证测试地点:
  广电计量广州总部、广电计量上海试验室。
  AEC-Q104认证测试业务咨询:
  GRGT张工186-2090-8348;
  zhanghp grgtest.com
  试验后元器件失效分析项目:
  ①形貌分析技术:体视显微镜、金相显微镜、X射线透视、声学扫描显微镜、扫描电镜、透射电镜、聚焦离子束。
  ②成分检测技术:X射线能谱EDX、俄歇能谱AES、二次离子质谱SIMS、光谱、色谱、质谱。
  ③电分析技术:I-V曲线、半导体参数、LCR参数、集成电路参数、频谱分析、ESD参数、电子探针、机械探针、绝缘耐压、继电器特性。
  ④开封制样技术:化学开封、机械开封、等离子刻蚀、反应离子刻蚀、化学腐蚀、切片。
  ⑤缺陷定位技术:液晶热点、红外热像、电压衬度、光发射显微像、OBIRCH。
 

特别提示:本信息由相关企业自行提供,真实性未证实,仅供参考。请谨慎采用,风险自负。


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